(I) 3 D 三次元測定ツールの開発

Edit: Nano(Xi'an)Metrology Co.、Ltd    Date: Oct 20, 2016
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科学技術の急速な発展、多くの地域をますますサイズを測定し、ワークピースの形状母数要件を提案します。現時点では人々 は、測定法と機器の多くの種類を開発しているが正常にそれらのすべての制限を持ってコスト、測定範囲、精度等が canand #39; t は、科学技術の開発のニーズを満たします。以下は、3 D の長所と短所ツールを測定します。

A. 接触測定

a. CMM

3 次元接触測定法は、従来型のプローブ型から開発されています。最近では、3 つの座標測定 machine(CMM)法の開発と 3 D ツールの主な用途の成功モデルです。3 つの座標測定機は多機能計器の種類だけでなく高精度、強力な包括的な幾何学的な測定装置の一種。それは精密機械、精密機械設計、電子技術、コンピューター技術、ソフトウェア技術、高度な技術に基づいて。

3 つの座標測定機は一般的に主な構造、計測システム、制御システム、成ってください。プローブ システム、デバイス、コンピューター、およびプリンターや表示機能」などの端末装置を表示します。彼らの関係を以下に示します。


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